锗粒检测项目有哪些？
成分检测、硬度检测、纯度检测、杂质检测、含量检测、折光率检测、反射度检测、导电性能检测、机械性能检测、力学性能检测等。
锗粒检测范围有哪些？
锗粒、陶瓷锗粒、金属锗粒、高纯锗粒、负离子锗粒、抛光灯锗粒等。
锗粒检测标准
YS/T 989-2014 锗粒
T/SAS 0004-2018 空间粒子探测用锗酸铋闪烁晶体
GB/T 5238-2009e 锗单晶和锗单晶片
GB/T 5238-2009(英文版 单晶锗及单晶锗片
CSN 42 4991-1970 多晶锗
YS/T 300-2008 锗精矿
YS/T 1510-2021 高纯锗粉
GB/T 11071-2018(英文版 区精锗锭
锗的形态检测方法
1. X射线衍射（XRD）
X射线衍射是一种非破坏性的分析技术，可用于确定晶体结构、晶格参数、晶粒大小等信息。在锗的形态检测中，XRD常用于确定晶体结构和晶格参数。
2. 扫描电子显微镜（SEM）
SEM是一种高分辨率的显微镜，可用于观察材料的表面形貌和微结构。在锗的形态检测中，SEM通常用于观察锗颗粒的大小、形状和分布情况。
3. 透射电镜（TEM）
TEM是一种高分辨率的显微镜，可以对材料的微结构进行观察。在锗的形态检测中，TEM常用于观察纳米级别的锗颗粒。
